在高分散负载催化剂的结构分析中,STEM-HAADF成像由于具有直观、易解析的原子序数衬度(Z衬度),被最为广泛地使用。通过直接的原子尺度Z衬度成像,可以在实空间获得原子级分散的贵金属表面物种在载体表面锚定位点和存在形式等微观结构信息。与此同时,STEM-EELS和EDS等谱学方法则通过采集特征的能损电子和X射线信号获得催化剂样品中各元素的分布。当负载金属物种在载体上的分布无法通过HAADF像的原子序数衬度进行直接判断时,则可通过与HAADF像同步采集的原子分辨的谱学方法进行表征。
除了利用透射电子对催化剂样品进行原子尺度结构分析外,在球差校正STEM中还可以利用基于二次电子/背散射电子的SE/BSE成像实现催化剂表面结构的原子尺度解析,该成像技术在近年逐渐得到重新重视。此外,催化剂的结构研究必须超越高真空环境下的常规电镜分析,走向原位。了解催化剂在特定温度和反应气氛条件下的结构和成分变化对于理解催化性能起源和失效机制具有关键意义。近年来原位电镜技术的不断发展使得在电镜的高真空镜筒中模拟催化剂真实的工作环境成为可能,为深入探究催化剂的真实构效关系提供了新的实验手段。
球差校正STEM因其优秀的空间分辨率和单原子分析灵敏度为探索原子级分散的负载催化剂的构效关系提供了关键结构信息。在文章的最后,作者还从EELS的精细结构分析、差分相位衬度技术(DPC)、以及扫描电子衍射成像技术(4D-STEM)等方面讨论了STEM技术在负载催化剂研究中的应用与发展前景。
更多内容请见《真空科学与技术学报》第41卷。第4期,307-317页。
DOI:10. 13922 / j. cnki. cjvst. 202103018
引用格式:X. Peng, A. Li, Y. Zhu, W. Zhou, Application of Scanning Transmission Electron Microscopy in the Studies of Atomically Dispersed Catalysts, Chin. J. Vac. Sci. Tech, 41, 4, 307-317(2021)
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