4H(6H)-SiC表面重构的STM/STS研究
卢慧, 王昊霖, 杨德仁, 皮孝东
真空科学与技术学报,2023, 43(3): 191-201.
doi: 10.13922/j.cnki.cjvst.202303002
摘要:半导体碳化硅由于具有宽的带隙,高的导热系数以及大的电子迁移率等优点,使其成为一种在高温、高频、大功率电子器件中具有应用前景的材料。碳化硅器件的性能受表面和界面质量的影响。在高温条件下退火碳化硅表面的重构,形貌也会发生变化,导致与金属或其他材料接触的表面结构不同。因此,碳化硅器件会受到表面重构和形貌的影响。扫描隧道显微镜/扫描隧道谱(STM/STS)是一种可以在实空间获得表面重构的形貌信息以及电子结构非常有用的工具。这篇综述介绍了用STM/STS分析了4H(6H)-SiC的各种表面重构及其电子结构,旨在促进表面科学和碳化硅生长以及器件的发展和进步。
MOCVD同质外延生长的单晶β-Ga2O3薄膜研究
陈陈, 韩照, 周选择, 赵晓龙, 孙海定, 徐光伟, 龙世兵
真空科学与技术学报,2023, 43(3): 202-209.
doi: 10.13922/j.cnki.cjvst.202204021
摘要:采用金属有机化学气相沉积(MOCVD)技术,在(010)Fe掺Ga2O3半绝缘衬底上进行同质外延生长Ga2O3薄膜,系统性地研究了生长温度(880℃/830℃/780℃/730℃)和生长压强(80/60/40/20 Torr)对外延薄膜表面形貌、晶体质量以及电学特性等的影响。结果表明随着生长温度和压强的增加:薄膜生长速率分别呈现出略微增加和大幅下降的趋势;薄膜表面阶梯束(step bunching)的生长方式逐渐增强,并且呈现出沿着[001]晶向生长的柱状晶粒;高分辨X射线衍射(XRD)扫描显示薄膜均只在(020)面存在衍射峰,表明生长的薄膜为纯β相单晶薄膜,且半高宽可达到45.7 arcsec;霍尔测试表明780℃和60 Torr的生长条件下薄膜的室温电子迁移率最高。本文为基于MOCVD的Ga2O3同质外延生长提供了系统的参数指导,为高质量Ga2O3薄膜的制备奠定了基础。
InAs/GaAs自组织量子点的可控分子束外延生长及其新型光电器件研究
陈英鑫, 黄晓莹, 杨灼辉, 钟汉城, 宋长坤, 刘林, 喻颖, 余思远
真空科学与技术学报,2023, 43(3): 210-218.
doi: 10.13922/j.cnki.cjvst.202210007
摘要:半导体量子点因其具有类原子的分立能级结构,可在三维方向上对载流子运动进行束缚,因此被认为是光发射器件(激光器、量子光源等)极具前景的有源物质之一。其器件的性能强烈依赖于量子点材料的品质、光场与量子点偶极子场的有效相互作用等。本文将从半导体InAs/GaAs自组织量子点的可控分子束外延生长调控技术出发,进一步探讨应用于光通信、片上光互联领域的量子点激光器,以及应用于光量子信息领域的高品质量子光源器件。
生长温度对Cr原子掺杂在Bi2Se3中位置及磁性的影响
徐永康, 闫鹏飞, 代兴泽, 张小龙, 王瑾, 王双海, 何亮
真空科学与技术学报,2023, 43(3): 219-224.
doi: 10.13922/j.cnki.cjvst.202209012
摘要:本文报道用分子束外延(Molecular Beam Epitaxy: MBE)技术制备了优良的铬(Cr)掺杂硒化铋(Cr-Bi2Se3)薄膜样品。通过反射高能电子衍射 (Reflective High Energy Electron Diffraction: RHEED)、X射线衍射 (X-ray diffraction: XRD) 技术和电磁输运系统对Cr-Bi2Se3进行测试。实验结果显示:较低的生长温度下Cr进入Bi2Se3中替代Bi位形成CrBi;较高的生长温度下Cr进入Bi2Se3中的范德瓦尔斯间隙形成层间(Interlayer)CrI,这一区别导致Cr-Bi2Se3在生长速率及磁性等方面表现出不同的性质。所以可以通过控制生长温度来调制Cr的掺杂位置,得到更理想的效果。