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人物专栏

刘益春

《真空科学与技术学报》主编

中国真空学会副理事长
东北师范大学 教授

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期刊简介

 

  《真空科学与技术学报》(http://cjvst.cvs.org.cn) 是由中国真空学会主办,中国科学技术协会审定的国家级自然科学技术刊物,被中国科技核心期刊目录、北大核心期刊目录、Scopus数据库收录,是中国科学引文数据库来源期刊。学报刊发真空获得、改进、检测、应用的中文及英文研究论文,涉及物理、化学、工程、材料、生物等多学科的交叉。2025年1月,学报成立第十届编委会,现任主编为东北师范大学刘益春院士。50人的编委队伍有两院院士5人,国家级领军人才30余人,真空相关企业界代表10余人,具有广泛的代表性。

2025年02期
研究论文

紧凑型ECR-DD中子发生器二次电子抑制研究

廖晨伦;孟献才;李旭;李晨暄;谢亚红;曹小岗;徐伟;李辉;梁立振;

中子发生器在工作时,D+被加速轰击至钛靶,钛靶受到高能束流轰击的同时表面会产生二次电子,加重电源负载,影响系统的稳定性。文章研究了不同电极结构对腔室温度、真空度和中子产额的影响。结果表明电极腰孔的形状会直接影响二次电子从腰孔逃逸的数量,并进一步影响腔室壁温度,导致壁吸附气体的释放,提升高压打火的频率。模拟分析了二次电子的传输路径,模拟显示靶面溅射二次电子一部分从腰孔溢出轰击在腔室壁,一部分溅射在电极内侧,少部分被反向加速轰击在陶瓷窗上,模拟结果与实物痕迹相吻合。基于该结果开展了电阻与磁场两种方式下二次电子的抑制实验,结果表明采用30-68 kΩ的电阻能较好抑制二次电子,此时能在相对较小的电流下获得更高的中子产额;使用1.3 T剩磁永磁铁在中心产生约100 Gs磁场,能实现二次电子的有效偏转,不影响中子产额的情况下电流下降约23%,实现二次电子的抑制效果。总的来说,在保证电极内部真空度的情况下,应尽量在电极壁开小孔或不开孔或采取有效的二次电子抑制措施,有助于提升中子发生器的稳定性,进而延长其使用寿命。

2025 年 02 期 v.45 ; 合肥综合性国家科学中心能源研究院(安徽省能源实验室)项目(21KZS202;21KZS208); 安徽省自然科学基金面上项目(2308085MA22); 国家自然科学基金项目(12005200;12105135)
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低能等离子体轰击对单晶硅表面性能的影响

余天翔;薛转转;武鹏远;Oleksiy Penkov;

为了研究低能等离子体轰击对单晶硅表面物理性能的影响。通过控制刻蚀时间和真空腔内气体压强等因素,使用低能等离子体对单面抛光单晶硅(100)进行刻蚀。通过测量刻蚀后硅片的刻蚀深度、硅片表面粗糙度、拉曼光谱以及接触角,研究硅片表面物理性能的变化。实验结果表明,随着刻蚀时间的增加,硅片刻蚀深度基本不变,而随着刻蚀压力的增加,硅片刻蚀深度先减小后增加。当刻蚀电流为0.1 A,气体压力为2 mTorr时,硅片表面粗糙度在刻蚀时间为40 s时达到极小值。对刻蚀后硅片的拉曼光谱进行测量,发现拉曼二阶峰在总体上随刻蚀时间的增加而略微降低。分别使用氩离子和氮离子对硅片进行刻蚀,发现两者在空气中保存一段时间后水滴角均会有不同程度的增加。将刻蚀后的硅片分别置于氩气、氮气和空气环境中保存,硅片表面水滴角变化趋势几乎完全一致。证明低温等离子体轰击在较短的刻蚀时间内对硅片厚度没有明显影响,对硅片表面的粗糙度有一定的提高效果,对硅片表面的润湿性也起到了一定的减小作用,其中氩离子轰击处理的硅片更是在保存一段时间后发生了由亲水性到疏水性的转变。

2025 年 02 期 v.45 ;
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RF-PECVD生长参数对石墨烯薄膜品质的影响

袁强华;任江枫;殷桂琴;

对比不同工艺参数条件下生长的石墨烯薄膜的形貌和品质,分别研究了高频功率、放电气压、气体流量比、生长时间、生长温度以及基底种类对双频放电的RF-PECVD制备的石墨烯薄膜品质影响。实验结果表明,石墨烯的缺陷程度随着高频功率的增加而降低,但是薄膜的厚度随着高频功率的增加而减小。在3 Torr及5 Torr的条件下,石墨烯薄膜存在着较多的边界状缺陷。甲烷/氩气流量比为10:30、生长时间为40 min时,能够生长出品质较好的石墨烯薄膜。生长温度对石墨烯薄膜的生长影响较大,在300℃时,镍基底表面无法生长出石墨烯薄膜,并且生长温度低于600℃时,都无法生长出品质较好的石墨烯薄膜。最后发现,相同的生长条件,在镍基底上生长的石墨烯薄膜厚度更小,但是铜基底生长的石墨烯薄膜缺陷更少,品质更好,这与薄膜在两种基底上不同的生长方式有关。

2025 年 02 期 v.45 ; 国家自然科学基金项目(12165019)
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低频容性耦合Ar/O_2等离子体放电特性研究

张树人;刘相梅;王博;吕明宇;

文章使用了一维流体模型对驱动频率为40 kHz的Ar/O_2放电特性进行研究,着重讨论电压、气压、极板间距等外界条件对电离率、等离子体密度、电子温度和极板处离子能量等参数的影响。结果显示低频放电中γ模式占主导,DA(driftambipolar)模式非常微弱近乎忽略不计,且外界参数的变化并没有影响放电模式;低频放电的另一个特征为离子能量较高。此外,电压的增加使得等离子体密度和O_2~+能量迅速增大,鞘层区的电子温度随着电压的增大而上升,但等离子体区电子温度是下降的。气压和极板间距的增大也会使等离子体密度和离子能量增大,而鞘层区和等离子体区的电子温度均减小。

2025 年 02 期 v.45 ; 国家自然科学基金项目(12275039;11805107); 黑龙江省高校基本科研业务基金项目(145309625)
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《真空科学与技术学报》杂志社
2023年3月3日